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PL光致發(fā)光熒光光譜儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-20
  • 簡(jiǎn)要描述:光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測(cè)量應(yīng)用中通常是用激光(波長(zhǎng)如325nm、532nm、785nm 等)激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產(chǎn)生熒光,通過(guò)對(duì)其熒光光譜(即PL 譜)的測(cè)量,分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。PL光致發(fā)光熒光光譜儀可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息,是
  • 產(chǎn)品介紹

PL光致發(fā)光熒光光譜儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:


    光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測(cè)量應(yīng)用中通常是用激光(波長(zhǎng)如325nm、532nm、785nm 等)激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產(chǎn)生熒光,通過(guò)對(duì)其熒光光譜(即PL 譜)的測(cè)量,分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息,是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法,因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。


    傳統(tǒng)的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡與熒光光譜儀的結(jié)合,但是傳統(tǒng)的顯微鏡在材料的PL 譜測(cè)量中,存在很大的局限性,比如無(wú)法靈活的選擇實(shí)驗(yàn)所需的激光器(特別對(duì)于UV 波段的激光器,沒(méi)有足夠適用的配件),無(wú)法方便的與超低溫制冷機(jī)配合使用,采用光纖作為光收集裝置時(shí)耦合效率太低等等問(wèn)題,都是采用標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡難以回避的問(wèn)題。
    北京卓立漢光儀器有限公司結(jié)合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統(tǒng)的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和普遍用戶的實(shí)際需求,推出了“Flex One( 微光)”系列顯微光致發(fā)光光譜儀,有效的解決了上述問(wèn)題,是目前市場(chǎng)上的的顯微PL 光譜測(cè)量的解決方案。

PL光致發(fā)光熒光光譜儀性能特點(diǎn):

● 一體化的光學(xué)調(diào)校

——整機(jī)設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)穩(wěn)固,光路穩(wěn)定,確保高效性和易用性

● 簡(jiǎn)單易用的雙樣品光路設(shè)計(jì)

——可隨意在水平和垂直光路上進(jìn)行切

換,適用于各種常見(jiàn)的樣品夾具

● 超寬光譜范圍**

——200nm-2500nm

● 視頻監(jiān)視光路 

——通過(guò)監(jiān)視器,查找微米級(jí)樣品,可供調(diào)整,定位測(cè)試樣品點(diǎn)
● 多種激發(fā)波長(zhǎng)可選**
——266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等

● 自動(dòng)mapping功能可選*
——50mm×50mm標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量區(qū)間,可定制特殊規(guī)格,步進(jìn)精度1μm

特殊規(guī)格

● 電致發(fā)光(EL)功能可選*
——擴(kuò)展選項(xiàng)

● 顯微拉曼光譜測(cè)量功能可選*

——擴(kuò)展選項(xiàng)

● 超低溫測(cè)量附件可選*

——可配置多種低溫樣品臺(tái)

*選配項(xiàng),請(qǐng)?jiān)敿?xì)咨詢; **需根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行配置確定

系統(tǒng)組成

● 激發(fā)光源部分:紫外-近紅外波段各種波長(zhǎng)激光器
● 顯微光路部分:優(yōu)化設(shè)計(jì)的專用型顯微光路
● 光譜采集部分:影像校正光譜和高靈敏型科學(xué)級(jí)CCD或單點(diǎn)探測(cè)器和數(shù)據(jù)采集器
● 樣品臺(tái)支架部分:xyz三維可調(diào)樣品臺(tái)(手動(dòng)或自動(dòng))、超低溫樣品臺(tái)

參數(shù)規(guī)格表:

主型號(hào)

Flex One

光譜范圍

300-2200nm

光譜分辨率

0.1nm

激發(fā)光可選波長(zhǎng)

266nm,325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等

探測(cè)器

類型

單點(diǎn)
Si

單點(diǎn)
PMT

單點(diǎn)
InGaAs

制冷型
CCD
2000×256

制冷型
InGaAs陣列
512×1

制冷型
InGaAs陣列
512×1

有效范圍

200-1100nm

200-870nm

800-2500nm

300-1000nm

800-1700nm

800nm-2200nm

空間分辨率

<50μm

注*:以上為參考規(guī)格,詳細(xì)規(guī)格依據(jù)不同配置的選擇會(huì)有差異,詳情請(qǐng)咨詢!

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