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光譜測(cè)量用探測(cè)器測(cè)量全自動(dòng)化
更新時(shí)間:2017-01-16瀏覽:2135次
光譜測(cè)量用探測(cè)器分非致冷型(室溫工作)和致冷型(低溫工作)兩大類.被廣泛用于激光預(yù)警、激光探測(cè)與監(jiān)控、激光跟蹤與定位、激光識(shí)別、激光計(jì)量、激光通訊等等的研究與開(kāi)發(fā)。
 
光譜測(cè)量用探測(cè)器維護(hù)簡(jiǎn)單
    采用替代法的測(cè)量原理,用戶不需要在實(shí)驗(yàn)前對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)雜的調(diào)試,日常維護(hù)也十分簡(jiǎn)單。
替代法是目前國(guó)家計(jì)量單位測(cè)量探測(cè)器光譜響應(yīng)度所采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。相比于傳統(tǒng)的測(cè)試方法,替代法既簡(jiǎn)便,準(zhǔn)確度又高,避免了許多系統(tǒng)誤差的產(chǎn)生。
 
光譜測(cè)量用探測(cè)器調(diào)制法測(cè)量技術(shù),提升測(cè)量結(jié)果信噪比
    采用調(diào)制法測(cè)量技術(shù)。調(diào)制法是目前國(guó)家計(jì)量單位采用的標(biāo)準(zhǔn)方法,通過(guò)選頻放大的技術(shù),可以大幅度抑制雜散光或環(huán)境噪聲對(duì)測(cè)量精度帶來(lái)的負(fù)面影響。
 
全反射光路設(shè)計(jì),優(yōu)化光斑質(zhì)量
    由于各種光電探測(cè)器的光譜響應(yīng)范圍不同,因此好的探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)該是寬光譜范圍的,這樣才能具備較強(qiáng)的通用性。在寬光譜范圍的光學(xué)設(shè)計(jì)中,采用反射式的光路設(shè)計(jì)要比透射式得到更高品質(zhì)的光束質(zhì)量和均勻光斑。在透射式的光學(xué)系統(tǒng)中,影響光束質(zhì)量和光斑品質(zhì)的重要因素是色差,色差源自于不同波長(zhǎng)的單色光在光學(xué)材料中的折射率不同,波長(zhǎng)范圍越寬,色差越明顯。而在反射式的光學(xué)系統(tǒng)中,由于根本不涉及折射,所以不存在色差的問(wèn)題。因此采用反射式光路,成像質(zhì)量大大優(yōu)于透射式光路,從而可以得到更高均勻度的平行光斑,或者更小尺寸的匯聚光斑。
 
光譜測(cè)量用探測(cè)器全自動(dòng)測(cè)量流程
   1)自動(dòng)化測(cè)量流程得到高重復(fù)性
樣品的重復(fù)定位精度很大程度上決定了測(cè)量重復(fù)性,電動(dòng)平移臺(tái)重復(fù)定位精度<10um,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于手動(dòng)樣品定位 
   2)自動(dòng)化測(cè)量流程降低了操作人員的要求
按軟件文字提示即可正確操作系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量,不需要對(duì)操作人員進(jìn)行復(fù)雜的培訓(xùn),特別適合工業(yè)客戶做檢測(cè)用 
   3)自動(dòng)化測(cè)量流程提高時(shí)間利用率
光譜測(cè)量用探測(cè)器系統(tǒng)在預(yù)設(shè)方案后即自動(dòng)運(yùn)行測(cè)量流程,可提高操作人員時(shí)間利用率
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